中国科学院合肥物质研究院 安光所光学工程中心

成果介绍

SIF高光谱成像探测仪

发布时间: 2020-09-11 作者:光学工程中心

 

1. 概述

新型SIF高光谱成像探测仪,可在空-地多尺度观测环境下对植物光合作用进行监测。仪器通过SIF对日光夫琅禾费暗线的填充效应原理实现在O2A和O2B吸收带中对SIF的有效探测。仪器具备高光能传输效率(F数/2)、超高光谱采样(0.1nm)和高成像质量,可在各类探测环境下实现SIF的高信噪比、高动态范围采集能力。

2. 主要性能参数和技术指标

 :20° (可依应用需求调整至40°)

 :670-780 nm 

 像元光谱:0.1 nm

 F:2

 像元空间分辨率:≤ 0.5 mrad

 :最大600:1

 :高灵敏度CMOS,USB控制接口

 :570 mm × 340 mm× 141 mm

 :20kg